Я конечно понимаю что я что то не понимаю, но чего именно не понимаю я пока не понимаю....
так вот... попал в руки тестер уже давно с китая. а пользоватся то часто не приходилось.
а как он работает? ну интересно же...решил разобратся... даже пришлось по гуглить чтоб лишний раз не копатся... попал в поле зрения ещё и usb .
смотрим внимательно, ну и видим такую картину...есть сопротивление- горит нормально нет - не горит. замыкает или меньше положеного-яркость значительно меняется.
(если честно даже откопал какой то старый донор и снял северный мост дабы убедится реально работает или нет.... да действительно верхние ряды перестали гореть...)
идём по мерим...материнку(целую), чтоб соображалка включилась...
черный щуп относительно чего, красным смотрим контакт разъёма относительно +3,3 верхние 3ряда 50-60кОм низ (А1-А13) 0-17кОм (видимо конденсаторы)
+5 верхние 3 45-65кОм низ (А1-А13) 0-15кОм
+12 верхние 3 50-55кОм низ (А1-А13) 0-15кОм
земля верхние 3 45-55кОм низ (А1-А13) 0-15кОм
теперь наоборот красный щуп относительно чего чёрным смотрим относительно +3,3 верхние 3 70-80кОм низ (А1-А13) 0-30кОм
+5 верхние 3 70-85кОм низ (А1-А13) 0-28кОм
+12 верхние 3 70-88кОм низ (А1-А13) 0-29кОм
земля верхние 3 70-85кОм низ (А1-А13) 0-27кОм
смотрим схему...и понимаем что в принципе нас интересует только земля... пытаемся отмоделить схему на Proteus... и чёт как то мне по плохело...или я уже запутался или не то тыкал... горело только если сопротивление было около 1кОм....а больше нет....ну или очень тускло... Относительно распиновки разъёма. на тестере у нас есть такие отметки:
VSS Ground (+батарейки) нижний ряд A0 to A13 Address input BA0, BA1 Bank select address / RAS Row address strobe command ODT0, ODT1 ODT control / CAS Column address strobe command / WE Write enable / CS0, / CS1 Chip select CKE0, CKE1 Clock enable
верхние ряды DQ0 to DQ63 Data input / output CK0 to CK2 Clock input / CK0 to / CK2 Differential clock input DQS0 to DQS7, / DQS0 to / DQS7 Input and output data strobe DM0 to DM7 Input mask
нет диодов SCL Clock input for SPD SDA Data input / output for SPD VDDSPD Power for serial EEPROM
не разведено VREF Input reference voltage SA0 to SA2 Serial address input VDD Power for internal circuit VDDQ Power for DQ circuit
Ну в принципе вроде самое важное в нём есть...
З.Ы. надо найти ошибку моделе....
А ТЕПЕРЬ самое интересное...как оч ленивому человеку стало интересно, можно ли упростить себе жизнь с оперативками... А конкретнее: возможно ли иметь возможность собрать аналогичною вещицу для самих планок DDR/2/3/4 ведь agp и pci тестер существует...(но там bga чип "яснопонятно") почему нету для планок...
мерим подопытных:
подопытный DDR1
A0 to A13 (11-18МОм) BA0, BA1 (10-15МОм) / RAS (127-170кОм) / CAS (12-17 МОм) / WE (12-17 МОм) CKE0 (12-19 МОм)
CK1 (12-19 МОм) DQ0,DQ1,DQS0,DQ2 (8-12МОм)
подопытный DDR2 (мало данных(силы кончались,нудятина неимоверная), но картина аналогичная)
A0 to A13 5-7МОм BA0, BA1 5-9МОм / RAS ODT0, ODT1 / CAS / WE / CS0, / CS1 CKE0, CKE1 (относительно + 2,5МОм к земле 0,5МОм)(к + 4 МОм к земле 7 МОм)
DQ0 to DQ63 (к + 4-9МОм к земле 10-12МОм) CK0 to CK2 / CK0 to / CK2 DQS0 to DQS7, / DQS0 to / DQS7 (к + 4-9МОм к земле 10-12МОм) DM0 to DM7
И вот тут что то я завис окончательно...А возможно ли вообще это... с таким то сопротивлением. Или даже нет смысла?
Единственный тестер планок DDR встречающийся мне в природе, был видимо на микроконтроллере , с проверкой каждой банки, скорости , и инфы SPI памяти... жесткач впечатляющий но цены, ещё жёсче... Хотелось бы что то по проще... Количество битых планок увеличивается, и хотелось бы иметь простой вариант понимание проблем с ними...(а там может и до ребола не далеко....;) )
Добавлено (05/09/2017, 15:09:06) --------------------------------------------- В том смысле, что на входах/выходах микросхем есть паразитные диоды подключенные катодом к выводу м/с, а анодом соответственно к минусу. измеряя падение напряжения на этом диоде, можно сделать вывод о том, оборвана цепь до этого вывода или нет. На этом принципе и основана "слотовые" тестеры...
Вроде что то прояснилось. Собрав контрольку из св.диода и проводов и батарейки по лазил по плате. без касания платы на св.диоде 1.3v . касаясь например керамики цп с одной стороны получаем 1.98 с другой 2.1v пробежавщись по разъёмам (цп ddr и pci) получаем примерно одинаковые картины: такие измерения как 1.8 1.86 2.05 2.1 2.4 2.45 понятное дело 3v там где земля. даже взял по смотреть видеокарту 7850. аналогичным способом пробежавшись по контактам, видим напряжение на св.диоде 1,86 и 2,15 (без св.диода просто приложив + батарейки к земле можем наблюдать на этих контактах 2,5 и 2,8в . с другой стороны шины другая картина, имеются пины с падающим напряжением (конденсаторы? ) от 2,5 к 0 и в минус Думаю таким способом в полне можно выявлять не контакт микросхем с платой? Но систематизировав данные (промерить всё на рабочем и сравнить пины) и ограничив некоторые пины , выравнить яркость светодиодов, как на слот тестере и задумано при замыкании. Верны ли мысли?
Мысль верная... все остальное, ИМХО, бред.
ну да... кусок текстолита и и пару сотен диодов... времени и нервов то на то и выйдет....
с али pci-e + agp тестер для видюх 2к... жаба душит. а вот на планки ничего нет. хотя и сомнительно что они отходят, скорей всего целиком блок выходит из строя.
Файлы
Прошивки
Продажа
Литература
Статьи
Зарегистрировано всего