Так что, внешние факторы тоже оказывают значительное влияние на SPI 25-й серии
Ошибочный вывод именно в том, что внешний фактор повлиял на саму флешку и ее содержимое, а не как то иначе. С точки зрения теории это обьясняется элементарно соотношением элементов всей схемы к количеству элементов самой флешки подверженых тем же самым условиям что и вся схема.
Внешний фактор куда больше повлиял на работу самого ноута, а результат этого влияния оказался во флешке. Каждое включение и выключение ноута это обновление содержимого флешки в определенных областях, запись данных без какого либо контроля содержимого. Если элементарно сравнить те данные, что были в флешке до и после, то можно заметить, что изменения не в статических областях дампа, а в обновляемых в процессе работы ноута, и именно это и подтверждает, что ни флешка виновата, а сам ноут туда мусор записал. Крайне редко сбои наблюдаются в областях с запакованными (сжатыми) частями вари, так как они не обновляются в процессе работы ноута. Есть множество устройств где 25я никогда не вылетает и это устройства не требующие никакой настройки либо крайне редко нуждаются в настройке и не имеют встроенных таймеров (часов) это сетевухи, звучки, модемы, контроллеры, хабы, принтсерверы и т.п. Эти устройства используют 25ю только в режиме чтения и там ничего и никогда не вылетает.
В жестких дисках это совершенно типичная проблема называемая Soft BAD, когда хард записывает сектор с данными, а потом сам же не может его прочитать, и это только потому что процесс записи сектора ни в одном из дисков не контролируется и не перепроверяется, чтобы не было потерь в производительности.
Для того чтобы утверждать что виновата непосредственно сама флешка. Должны быть в считанном дампе повреждения структуры имеющие определенные последовательности и закономерности схожие с оргинизацией самой флешки. Сбойная страница, зависший бит, смещение блока, повторы, провалы и т.д. и т.п. По моей практике подобное встречается крайне редко.
Чтобы выявить реальные проблемы вылета флешек нужно учитывать сразу несколько реальных технологических факторов. 1. В теории вычислений и вычислительной техники есть такой термин как "вероятность ошибки", там вероятности очень и очень маленькие и поэтому многие либо забывают об этом либо игнорируют. Именно для предотвращения этих самых мизерных вероятностей в высокостабильных системах требующих гарантированные вычисления используют, биты коррекции, ЕСС коррекцию, Gray код и многое другое. И тут мы должны учитывать что в системах/блоках/схемах там где применяется 25й серия это дешевая электроника где не применяются никакие методы коррекции данных и эта электроника никак не застрахована от этих самых мизерных вероятностей и глюков. 2. Кто изучал технологию NAND памяти знает, что там оговариваются технологические ограничения ячейки памяти не только по количеству циклов записи, но и по срокам хранения состояния. Существует даже такая проблема как перетекание заряда с одной ячейки в другую. И если думаете что это касается только NAND памяти, то вы ошибаетесь. Теоретически и фактически ячейка любой памяти имеет свойство утратить свое состояние, одни хранят дольше, другие меньше и это зависит от применяемой технологии, используемых материалов, плотности элементов, отлаженности тех.процесса и т.д. и т.п. 3. Внешние факторы. Тут можно приписывать что угодно, статику, магнитные поля, любые излучения, барабашек и т.п. Но они в большей степени повлияют на работу устройства чем самой флешки.
На мой взгляд и по моему опыту, факторы слета флешек именно в таком порядке 1 глюки от которых не застрахованы сами устройства, 2 глюки самих флешек из-за своих технологических особенностей, 3 на последнем месте внешние факторы.
В начале 2000х когда процветала эпидемия у дисков Fujitsu, мне попалась флешка в которую прописался кусок файловой системы. Я сидел смотрел на дамп в котором черным по белому было прописанно NTKERNEL.DLL, и я очень долго размышлял о том как это могло туда попасть и что должно было произойти. А все оказалось банально просто, глюк проца и блок данных вместо того чтобы записаться на блины пошел не по тому адресу и залетел в флешку. Тогда это была эпидемия "цироз" как ее обозвали, спустя годы выяснилось что подобной болезнью страдали не только диски Fujitsu, но и телевизоры, и мониторы и много чего еще, и страдали микросхемы не только CirrusLogik, но и Philips, и Texas и многие другие, и все только из-за того что все использовали один и тот же японский эпоксидный компаунд для приклеивания кристала к подложке который со временем разлагался с выделением оттофосфорной кислоты. Вот и казалось бы в чем связь флешки с эпоксидкой, а оказалось что реальным виновником глюков флешек и не только стала эта самая японская эпоксидка.
Файлы
Прошивки
Продажа
Литература
Статьи
Для просмотра сообщения Вы должны быть Участником форума. Для этого Вам необходимо 
Зарегистрировано всего