Всем привет. Бывает такое что прошивка (например в микросхемах 25 серии) слетает (в различных устройствах, ноутбуках, телевизорах, автомагнитолах), но при этом сама микросхема рабочая. Меняем прошивку и все работает дальше. Так вот, каковы причины таких повреждений прошивки?
Я вижу следующие причины: 1. Микросхема загружающая прошивку может менять в ней значения, возможно случается какой то глюк и она меняет значения не по тому адресу. 2. Стороннее программное обеспечение меняет прошивку (если это компьютер) 3. Пишут о том что виновато питание (высокочастотные помехи проходят? ) 4. Радиоактивное излучение изменяет данные во флешке? 5. Статическое электричество 6. Микросхема флешки не совсем рабочая, не стабильно хранит данные (хотя при повторной прошивке все вроде бы работает потом без сбоев)
Напишите с чем согласны/несогласны и свои варианты и мысли по этому вопросу?
Радиоактивное излучение изменяет данные во флешке? - присутствуют атомы урана и тория в корпусе чипа. деление вызывает поток частиц с высокой энергией. Альфа-частицы . не шутка https://studfile.net/preview/8104937/page:14/
Ха, у меня это постоянно, отвязываются брелки и ключи, слетает винда в магнитолах. Потому что клиенты не хотят менят Акум в машине, в ключе батарейку вовремя и в пульте. Вывод все, происходит из-за питания.
Чтобы выявить реальные проблемы вылета флешек нужно учитывать сразу несколько реальных технологических факторов. 1. В теории вычислений и вычислительной техники есть такой термин как "вероятность ошибки", там вероятности очень и очень маленькие и поэтому многие либо забывают об этом либо игнорируют. Именно для предотвращения этих самых мизерных вероятностей в высокостабильных системах требующих гарантированные вычисления используют, биты коррекции, ЕСС коррекцию, Gray код и многое другое. И тут мы должны учитывать что в системах/блоках/схемах там где применяется 25й серия это дешевая электроника где не применяются никакие методы коррекции данных и эта электроника никак не застрахована от этих самых мизерных вероятностей и глюков. 2. Кто изучал технологию NAND памяти знает, что там оговариваются технологические ограничения ячейки памяти не только по количеству циклов записи, но и по срокам хранения состояния. Существует даже такая проблема как перетекание заряда с одной ячейки в другую. И если думаете что это касается только NAND памяти, то вы ошибаетесь. Теоретически и фактически ячейка любой памяти имеет свойство утратить свое состояние, одни хранят дольше, другие меньше и это зависит от применяемой технологии, используемых материалов, плотности элементов, отлаженности тех.процесса и т.д. и т.п. 3. Внешние факторы. Тут можно приписывать что угодно, статику, магнитные поля, любые излучения, барабашек и т.п. Но они в большей степени повлияют на работу устройства чем самой флешки.
На мой взгляд и по моему опыту, факторы слета флешек именно в таком порядке 1 глюки от которых не застрахованы сами устройства, 2 глюки самих флешек из-за своих технологических особенностей, 3 на последнем месте внешние факторы.
В начале 2000х когда процветала эпидемия у дисков Fujitsu, мне попалась флешка в которую прописался кусок файловой системы. Я сидел смотрел на дамп в котором черным по белому было прописанно NTKERNEL.DLL, и я очень долго размышлял о том как это могло туда попасть и что должно было произойти. А все оказалось банально просто, глюк проца и блок данных вместо того чтобы записаться на блины пошел не по тому адресу и залетел в флешку. Тогда это была эпидемия "цироз" как ее обозвали, спустя годы выяснилось что подобной болезнью страдали не только диски Fujitsu, но и телевизоры, и мониторы и много чего еще, и страдали микросхемы не только CirrusLogik, но и Philips, и Texas и многие другие, и все только из-за того что все использовали один и тот же японский эпоксидный компаунд для приклеивания кристала к подложке который со временем разлагался с выделением оттофосфорной кислоты. Вот и казалось бы в чем связь флешки с эпоксидкой, а оказалось что реальным виновником глюков флешек и не только стала эта самая японская эпоксидка.
AndreyKireev, Было два случая Первый где то 6 лет назад, после перелета ноут перестал включатся, хозяин до самолета пользовался, говорит что выключился корректно, ноутбуку было на тот момент 2 года, после прошивки ноут запустился. Второй случай был точно такой же буквально год назад, тоже после перелета. Так что, внешние факторы тоже оказывают значительное влияние на SPI 25-й серии
Так что, внешние факторы тоже оказывают значительное влияние на SPI 25-й серии
Ошибочный вывод именно в том, что внешний фактор повлиял на саму флешку и ее содержимое, а не как то иначе. С точки зрения теории это обьясняется элементарно соотношением элементов всей схемы к количеству элементов самой флешки подверженых тем же самым условиям что и вся схема.
Внешний фактор куда больше повлиял на работу самого ноута, а результат этого влияния оказался во флешке. Каждое включение и выключение ноута это обновление содержимого флешки в определенных областях, запись данных без какого либо контроля содержимого. Если элементарно сравнить те данные, что были в флешке до и после, то можно заметить, что изменения не в статических областях дампа, а в обновляемых в процессе работы ноута, и именно это и подтверждает, что ни флешка виновата, а сам ноут туда мусор записал. Крайне редко сбои наблюдаются в областях с запакованными (сжатыми) частями вари, так как они не обновляются в процессе работы ноута. Есть множество устройств где 25я никогда не вылетает и это устройства не требующие никакой настройки либо крайне редко нуждаются в настройке и не имеют встроенных таймеров (часов) это сетевухи, звучки, модемы, контроллеры, хабы, принтсерверы и т.п. Эти устройства используют 25ю только в режиме чтения и там ничего и никогда не вылетает.
В жестких дисках это совершенно типичная проблема называемая Soft BAD, когда хард записывает сектор с данными, а потом сам же не может его прочитать, и это только потому что процесс записи сектора ни в одном из дисков не контролируется и не перепроверяется, чтобы не было потерь в производительности.
Для того чтобы утверждать что виновата непосредственно сама флешка. Должны быть в считанном дампе повреждения структуры имеющие определенные последовательности и закономерности схожие с оргинизацией самой флешки. Сбойная страница, зависший бит, смещение блока, повторы, провалы и т.д. и т.п. По моей практике подобное встречается крайне редко.
как пример . помнится поголовный слёт прошивок в бензоколонках. заипался был писать чипы. расследование показало что заводили движок при включенном терминале.установка супервизоров на проц решила проблему бо объяснить что либо мазутам невозможно. а часто он используется в дешовой технике ?